深圳市创硕达电子有限公司

     降压电容器选型

       针对现在电子产品成本压力和体积的要求越来越小&。在电路应用上,阻容降压这种低成本,小体积的电路得到广泛的运用&。降压电容器在电路中起到关键的作用&。电容器容量的稳定性,失效模式是选择降压电容器的重点&。

       一.电容器容量的稳定性是电路运行的基础&。阻容降压电容是利用电容器的容抗进行降压的&。电路中的容抗Xc为:

      Xc=1 /(2 πf C) (1)
      流过电容器的充电电流(Ic)为:
      Ic = U / Xc (2)
      将公式(1)带入公式(2)得:
      Ic = U / Xc= U*2 πf C

      容量与电流成正比,容量下降即输出电流下降,最后导致电器无法正常工作&。

      电容器串联在电路中,承受着交流电流的冲击&。为了检验其容量的稳定性,采用大电流冲击测试可以提前测试出容量衰减的状况&。现将聚酯电容器和我司的电容器进行连续短路放电对比试验,实验电压600VDC,短路放电20次;实验前后测试容量和DF值(测试设定1.0KHz,电平1.0Vrms),实验结果如下:

阻容降压电容

      聚酯T型安全薄膜684J450V测试后容量变化平均值-33.96%,最大容量变化值-52.29%,DF值超过标准值0.0100;

      CSD提供MPR684J400V,容量和DF值近似无变化&。

      聚酯T型安全薄膜564J450V测试后容量变化平均值-32.83%,最大容量变化值-40.899%,DF值超过标准值0.0100;

      CSD提供MPFC564J450V,容量和DF值近似无变化&。

      测试结果及解剖分析:

      684J450V芯子,确认采用的薄膜蒸镀电极结构为直板TD安全型,边沿无加厚&。查看安全保险丝无动作&。喷金接触区有放电现象&。

      由此证明以上设计不适合用于阻容降压电路&。此种结构可用于低电流高电压环境,且电流变化较小的电路如滤波电路等&。

      二.电容器失效模式测试

      无限制施加电压和电流,两种电容器都会击穿融化,最后为开路状态,即失效模式为开路&。(安全膜结构并不能保证薄膜不会击穿,电容器同样会熔融爆裂&。)

      聚酯薄膜电容器与聚丙烯薄膜电容器对比,聚酯薄膜电容器内部温升高(即电容器自身发热量大);DF值比聚丙烯薄膜电容器大10倍;DF值和容量随温度的升高而升高,且变化远大于聚丙烯薄膜电容器&。

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